芯測科技開發的 MBIST測試演算法推薦工具（MBIST Algorithm Recommendation Tool, MART）是一套以 AI 驅動的記憶體測試演算法推薦平台，專為先進半導體產品的 SRAM 測試策略最佳化而設計。傳統 MBIST 演算法選擇高度依賴工程師經驗與人工比對，需反覆權衡缺陷覆蓋率、測試時間、功耗與面積成本。MART 將此流程升級為 AI 輔助決策模式，大幅提升效率與準確度。
系統可整合 memory type、memory size、port 架構、目標 DPPM、failure information、fail bitmap、repair result 與 test time budget 等關鍵參數，自動推薦最適合的 March 演算法組合、UDA 測試元素與診斷流程，協助快速建立完整測試策略。
MART 的核心創新在於多目標最佳化機制。不同於傳統條件篩選方式，系統透過 AI 權重分析，同時平衡品質、測試效率與設計成本，使 MBIST 策略更貼近實際產品需求。隨著 AI、車用與 HPC 晶片記憶體規模與複雜度持續提升，MART 讓記憶體測試從經驗導向邁向資料與 AI 導向，協助提升良率、可靠度與產品上市效率。